掲載誌バックナンバー
◆電子顕微鏡技術を応用したイオン分布測定システムの開発：[たまNAVI, No.80 (2019) P10]に第16回多摩ブルー賞の優秀賞受賞企業として弊社の記事が掲載されました。
◆第16回多摩ブルー・グリーン賞優秀賞を受賞し、プレスリリースされました。
受賞テーマ：電子顕微鏡技術を応用したイオン分布測定システムの開発
◆第15回多摩ブルー・グリーン賞奨励賞を受賞し、プレスリリースされました。
受賞テーマ：電子線検出型イオン分布ナノセンシングシステム
◆単原子電子源を搭載した低加速走査型電子顕微鏡：[顕微鏡, Vol.45, No.2 (2010)]が掲載されました。
◆Charge neutralization using secondary shower for shave-off depth profiling by focused ion beam secondary ion mass spectrometry：[Applied Surface Science, 255 (2008) pp1351-1353]で弊社電子銃を使用した研究が掲載されました。
◆走査透過電顕のための新しい収差補正法：[金属 第78巻第11号 平成20年11月1日発行 pp55-58]が掲載されました。
◆A Single-Atom Electron Source in Practical Gun of an Eztreme High Vacuum：[e-Journal of Surface Science and Nanotechology, 6, 68 (2008)]が掲載されました。
◆Development of a parallel detection and processing system using a mulutidetector array for wave field restoration in scanning transmission electron microscopy：[REVIEW OF SCIENTFIC INSTRUMENTS, 78, 083705 (2007)]が掲載されました。
◆Highly efficient electron gun with a single-atom electorn source：[Applied Physics Letter, 90, 143120 (2007)]が掲載されました。
◆低速電子回折顕微鏡の開発：[第68回応用物理学会学術講演会 (2007/9)]が掲載されました。
◆(国際学会)Highly efficient practical electron gun with a singleatom electron source：[The Fourth 21COE Symposium September, 2006, Waseda University, Japan]が掲載されました。
◆実用単原子源：[学振マイクロビームアナリシス第141委員会 第124回研究会 (2006/5)]が掲載されました。
◆単原子電子源を適用した電子銃の作成とその評価：[第53回応用物理学関係連合講演会 (2006/3)]が掲載されました。